| 仪器名称： | X射线光电子能谱(XPS) | 厂商： | 英国VG公司 |
| 型号： | MICROLAB MK II | 购进年份： | |
| 联系人email： | test@ustbtest.com | 联系电话： | (010) 6233 3720 |
| 性能参数： | 对于块状和薄膜试样直径不要超过8mm，厚度不要超过3mm；对于粉末试样，应在烘烤箱内烘烤后才能测试。 | ||
| 功能用途： | 主要用于固体样品表面的组成、化学状态分析。能进行定性、半定量及价态分析。广泛应用于聚合物、无机化合物、有机化合物、催化剂、涂层材料、纳米材料、矿石等各种材料的研究。 | ||
