检测项目

材料XPS检测

常规仪器

X射线光电子能谱分析XPS

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test@ustbtc.com

检测周期

5-10个工作日

检测参数介绍：

XPS可对固体样品表面化学组成、化学元素像、化学价态、价带结构、晶体结构分析及深度剖析。可进行金属、合金中夹杂物成分分析，炉渣、矿相、材料中元素及其在体相中的深度分布分析等，能给出逐层元素变化的具体信息（包括价态、含量、分布及元素的图像）。适用于非放射性和非挥发性金属、合金等导体、半导体、绝缘体，粉末、薄膜等。

检测项目：固体表面化学组成、化学元素像、化学价态、价带结构、晶体结构分析等

测试要求：

1、测试深度在3-5nm，分析区域<1mm2，常温测试；测试除H、He以外的元素种类、价态及含量。

2、测试样品为粉末，小于5*5*2mm，厚度一定要低于2mm，尽可能薄；长和宽在2mm～5mm之间。